影響覆層測厚儀測量值的因素及解決方法

        使用測厚儀與使用其他儀器相同。有必要掌握儀器的性能，了解測試條件。采用磁原理和渦流原理的涂層測厚儀都是根據(jù)被測基材的電學(xué)和磁學(xué)特性以及與探頭的距離來測量涂層的厚度。因此，被測基板的電磁物理特性和物理尺寸都會受到影響。磁通量和渦流的大小。這會影響測量值的可靠性。
         1.邊界間距
        如果探頭與被測物體邊界、孔、腔等截面的距離變化小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通量不足或渦流載體截面會導(dǎo)致測量誤差。如果此時需要測量涂層厚度，只能在相同條件的未涂層表面上進行預(yù)校準(zhǔn)來測量。 （注：新產(chǎn)品具有*的通過包層校準(zhǔn)功能，可以達到3-10%的精度）
         2.基板表面的曲率
        在一個平面對比樣品上校準(zhǔn)一個初始值，然后測量在包層厚度之后減去這個初始值?；蛘邊⒖枷乱黄恼?。
         3、母材厚度小
        基底金屬必須具有給定的小厚度，以便探頭的電磁場可以*包含在基底金屬中。厚度小與測量儀器的性能和金屬基體的性能有關(guān)。可以在不校正測量值的情況下執(zhí)行測量。對于基板厚度不足的影響，可以采取措施在基板下封閉一塊相同的材料來消除它。如果難以確定，或者不能添加基材，可以通過與已知涂層厚度的樣品進行比較來確定與額定值的差異。并在測量時考慮到這一點，對測量值進行相應(yīng)的修正或參照第2條。對于那些可以校準(zhǔn)的儀器，通過調(diào)節(jié)旋鈕或按鍵可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。
        反之，利用厚度過小的影響，可以開發(fā)測厚儀直接測量銅箔的厚度，如前所述。
         4、表面粗糙度和表面清潔度
        為了在粗糙表面上獲得具有代表性的平均測量值，必須進行多次測量。顯然，基材或涂層越粗糙，測量的可靠性就越低。為了獲得可靠的數(shù)據(jù)，基材的平均粗糙度 Ra 應(yīng)小于涂層厚度的 5%。對于表面雜質(zhì)，應(yīng)去除。有些儀器有上限和下限，以消除那些“飛點"。
         5、探頭測板的力度
        測量探頭的力應(yīng)該是恒定的。并且應(yīng)該盡可能小。以免造成軟涂層變形，使測量值下降。如果活性波動較大，必要時可在兩者之間放置一定厚度的堅硬、不導(dǎo)電、剛性的薄膜。因此，可以通過減去膜厚適當(dāng)?shù)孬@得剩磁。
         6、外部恒定磁場、電磁場和矩陣剩磁
        測量時應(yīng)避免靠近具有干擾作用的外部磁場。殘磁可能會根據(jù)探測器的性能或多或少造成測量誤差，但這種現(xiàn)象在結(jié)構(gòu)鋼、深沖鋼板等中一般不會發(fā)生。
         7、涂層材料中的鐵磁和導(dǎo)電成分
        涂層中某些鐵磁成分的存在，例如某些顏料，會影響測量值。在這種情況下，參考樣品的涂層應(yīng)與被測物的涂層具有相同的電磁性能，并應(yīng)在校準(zhǔn)后使用。采用的方法可以是在鋁板或銅板樣品上涂上相同的涂層，用渦流法檢測后得到對比標(biāo)準(zhǔn)